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반도체공정 (203회 대출)

자료유형
단행본
개인저자
김학동.
서명 / 저자사항
반도체공정 = Semiconductor device processing / 김학동 저.
발행사항
서울 :   홍릉과학출판사 ,   2008.  
형태사항
267 p. : 삽도, 도표 ; 26 cm.
ISBN
9788972836605
일반주기
부록: 1. 한눈에 보는 반도체 제조 공정, 2. SI 단위계에 대한 접두사, 3. 그리스 문자. 외.  
서지주기
참고문헌(p. 247-249), 색인수록
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No. 소장처 청구기호 등록번호 도서상태 반납예정일 예약 서비스
No. 1 소장처 과학도서관/Sci-Info(1층서고)/ 청구기호 621.38152 2008 등록번호 121167875 (80회 대출) 도서상태 대출가능 반납예정일 예약 서비스 B M
No. 2 소장처 과학도서관/Sci-Info(1층서고)/ 청구기호 621.38152 2008 등록번호 121167876 (72회 대출) 도서상태 대출중 반납예정일 2026-01-13 예약 서비스 M
No. 3 소장처 세종학술정보원/과학기술실(5층)/ 청구기호 621.38152 2008 등록번호 151254282 (26회 대출) 도서상태 대출불가(자료실) 반납예정일 예약 서비스 M ?
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No. 2 소장처 과학도서관/Sci-Info(1층서고)/ 청구기호 621.38152 2008 등록번호 121167876 (72회 대출) 도서상태 대출중 반납예정일 2026-01-13 예약 서비스 M
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No. 1 소장처 세종학술정보원/과학기술실(5층)/ 청구기호 621.38152 2008 등록번호 151254282 (26회 대출) 도서상태 대출불가(자료실) 반납예정일 예약 서비스 M ?

컨텐츠정보

목차

목차
Ⅰ 반도체 기초
 1. 반도체의 개념 = 12
 2. 기초 물질 = 14
  01. 원자 = 14
  02. 최외각 전자 = 16
  03. 주기율표 = 17
  04. 원자의 전자 배치 = 20
  05. 페르미 준위와 분포 함수 = 25
  06. 전자의 일함수 = 27
 3. 반도체 물리 = 28
  01. 도너와 억셉터 준위 = 28
  02. P형과 N형 도핑제 = 32
 4. 재료의 결정 구조 = 34
  01. 고체의 구조 = 34
  02. 결정 구조 = 36
  03. 결정의 면과 방향 = 42
 단원 종합 문제 = 45
Ⅱ 반도체 소자
 1. 반도체의 발전 = 48
  01. 진공관 = 49
  02. 트랜지스터 = 51
  03. 집적 회로(IC) = 52
  04. 반도체 기술의 발전 = 52
  05. 반도체 소자의 종류 = 54
  06. 반도체의 분류 = 55
 2. 다이오드 = 60
  01. 다이오드의 기초 = 60
  02. 다이오드의 동작 특성 = 62
  03. 바이어스 = 64
  04. 다이오드의 명칭 = 66
  05. 다이모드의 접합 형태 = 67
  06. 다이오드의 용도 = 67
  07. 다이오드 실험 = 74
 3. 트랜지스터 = 77
  01. 트랜지스터의 기초 = 77
  02. 트랜지스터의 동작 특성 = 78
  03. 트랜지스터의 종류 = 80
  04. 트랜지스터의 정특성 실험 = 86
 4. 반도체 소자의 작용 = 89
  01. 다이오드의 정류 작용 = 89
  02. 트랜지스터의 증폭 작용 = 90
  03. 발광 및 수광 소자의 변환 작용 = 90
  04. 반도체 논리 회로의 전환 작용 = 91
  05. 메모리 소자의 저장 작용 = 91
  06. 마이크로프로세서의 제어 작용 = 91
 단원 종합 문제 = 92
Ⅲ 반도체 재료
 1. 단결정 성장 방법 = 96
  01. 고순도 실리콘 제조 = 96
  02. 기둥 형태로 제작하는 방법 = 96
  03. 에피택시얼 성장법 = 100
 2. 결정 성장 실습 = 102
 3. 반도체 원/부자재 = 105
  01. 웨이퍼 = 105
  02. 웨이퍼 종류 = 106
  03. 웨이퍼의 특성 = 109
  04. 웨이퍼 개발 방향 = 109
  05. 반도체 소자 제조용 부자재 = 110
  06. 용어 설명 = 112
  07. 반도체 수율 = 115
  08. 반도체에 사용되는 단위 = 116
 단원 종합 문제 = 119
Ⅳ 반도체 공정
 1. 기본 요소 기술 = 122
  01. 세정(cleaning) = 122
  02. 열산화(thermal oxidation) = 122
  03. 불순물 첨가(impurity doping) = 123
  04. 박막 형성(thin film deposition) = 123
  05. 사진 석판(photo lithography) = 123
  06. 평탄화(planarization) = 124
  07. 식각(etching) = 124
 2. 반도체 공정의 개요 = 125
  01. 웨이퍼 제조 및 회로 설계 = 126
  02. 웨이퍼 가공 = 127
  03. 조립 및 검사 = 129
 3. 반도체 공정의 실제 = 131
  01. 다결정 실리콘 제조 = 131
  02. 결정 성장 및 웨이퍼 형성 = 132
  03. 회로 설계 및 마스크 제작 = 135
  04. 웨이퍼 가공 = 136
  05. 칩 선별 = 139
  06. 조립 공정 = 140
  07. IC 제조 공정 = 142
 4. 반도체 제조 라인 = 162
  01. 제조 라인의 개관 = 162
  02. FAB 라인 모양 = 162
  03. 청정실 복장 = 163
  04. 청정실 = 164
  05. 각 공정별 작업 장면 = 165
 단원 종합 문제 = 167
Ⅴ 반도체 공정 실습
 1. 회로 설계 실습 = 170
 2. 마스크 제작 실습 = 176
 3. 웨이퍼 가공 실습 = 178
 4. 초기 웨이퍼 세정 실습 = 179
 5. 공정 중 웨이퍼 세정 실습 = 181
 6. 회전 도포 실습 = 182
 7. 진공 탈수 베이크 실습 = 185
 8. 소프트 베이크 실습 = 186
 9. 포토마스크 세정 실습 = 188
 10. 마스크 정렬과 노광 실습 = 189
 11. PR 현상 실습 = 191
 12. 하드 베이크 실습 = 193
 13. 실리콘 식각 실습 = 194
 14. 확산 실습 = 197
 15. 산화 실습 = 199
 16. 스퍼터링 실습 = 203
 17. 알루미늄 식각 실습 = 210
 18. 진공 증착 실습 = 211
 19. 알루미늄 어닐링 실습 = 213
 20. 전기 전도율과 저항 측정 실습 = 214
 21. 두께 측정 실습 = 217
 22. 웨이퍼 전도 형태 측정 = 218
 단원 종합 문제 = 220
Ⅵ 반도체 응용
 1. 메모리 반도체 = 224
  01. RAM = 224
  02. ROM = 229
 2. 램(RAM)의 동작 원리 = 232
  01. 데이터 저장하기-write = 233
  02. 데이터 읽어오기-read = 234
 3. 비메모리 반도체 = 235
  01. ASIC = 235
  02. 범용 IC = 237
  03. 특수 반도체 = 238
  04. 시장 동향 = 240
 4. 반도체 소자 관련 주의 사항 = 241
  01. IC 제작 환경상의 주의 사항 = 241
  02. 사용 환경상의 주의 사항 = 242
  03. 시스템 설계상의 주의 사항 = 242
  04. 반도체 소자의 수명 = 243
 단원 종합 문제 = 246
인용 및 참고 문헌 = 247
찾아보기 = 250
부록

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